Applied Measurement with jMetrik
J. Patrick (University of Virginia Meyer
Wydawca: Taylor & Francis
Druk
EN
2014
Popularnonaukowe
Applied Measurement with jMetrik Meyer J. Patrick (University of Virginia USA) Wydawca: Taylor & Francis Ltd Data wydania: 2014 ISBN: 9780415531979 Liczba stron: 170 Format: 153 x 229 x 9 Rodzaj oprawy: Paperback / softback Opis produktu: Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
Aktualne ceny
Brak informacji o cenach
Historia cen (ostatnie 30 dni)
Brak historii cen