Fundamentals of Crystals: Symmetry, and Methods of Structural Crystallography
Wydawca: Springer
Druk
EN
2010
Poradniki
Fundamentals of Crystals: Symmetry, and Methods of Structural Crystallography Early in this century, the newly discovered x-ray diffraction by crystals caused a complete change in crystallography and in the whole science of the atomic structure of matter, thus giving a new impetus to the development of solid-state physics. Autor: Boris K. Vainshtein Wydawnictwo: Springer Rok wydania: 2010 Okładka: miękka Liczba stron: 482 Wymiary: 23.5 x 15.5 cm Ilustracje: XXI, 482 p. Język: angielski ISBN: 9783642081538
Aktualne ceny
Brak informacji o cenach
Historia cen (ostatnie 30 dni)
Brak historii cen